機器利用料金表更新のご案内

日頃より機器分析センターをご利用いただきまして誠にありがとうございます。
機器の追加等に伴い利用料金表を更新しました。
以下からダウンロードできます。

<運営形態変更機器>
・光電子分光分析装置 (DAR400/EA125)
・ラッピングマシーン（日本エンギス EJ200I ）
・リアクティブイオンエッチング装置（アルバックイーエス CE-300I型 ）
・表面X線回折装置（スペクトリス X'Pert PRO MRD ）
・光磁気効果測定超高感度磁力計（レイクショア 7404型 ）
・波長分散型蛍光X線元素分析装置（リガク ZSX Primus II）
・赤外域-多入射角分光エリプソメータ（J.A.ウーラム ジャパン IR-VASE ）
・紫外可視赤外分光光度計（日本分光 V-670+ARMN-735 ）

＜新規共用化機器＞
・液体クロマトグラフ四重極-飛行時間型質量分析計
（Waters Xevo G2-XS Q-TOF）
・マトリックス支援レーザー離脱イオン化飛行時間型質量分析装置
（ブルカー・ダルトニクス　autoflex maX）
・Triple TOF型質量分析装置
（エービー・サイエックス　TripleTOF5600+）
・400MHz核磁気共鳴装置(日本電子 JNM-ECS400)
・紫外-可視分光光度計(日立 U-3900)
・赤外分光光度計（パーキンエルマー Frontier FT-IR）

機器利用、技術相談は機器分析センターまで。
内線：6301
Email：k-bun01[at]cia.utsunomiya-u.ac.jp