機器利用料金表更新のご案内
日頃より機器分析センターをご利用いただきまして誠にありがとうございます。
機器の追加等に伴い利用料金表を更新しました。
以下からダウンロードできます。
<運営形態変更機器>
・光電子分光分析装置 (DAR400/EA125)
・ラッピングマシーン(日本エンギス EJ200I )
・リアクティブイオンエッチング装置(アルバックイーエス CE-300I型 )
・表面X線回折装置(スペクトリス X'Pert PRO MRD )
・光磁気効果測定超高感度磁力計(レイクショア 7404型 )
・波長分散型蛍光X線元素分析装置(リガク ZSX Primus II)
・赤外域-多入射角分光エリプソメータ(J.A.ウーラム ジャパン IR-VASE )
・紫外可視赤外分光光度計(日本分光 V-670+ARMN-735 )
<新規共用化機器>
・液体クロマトグラフ四重極-飛行時間型質量分析計
(Waters Xevo G2-XS Q-TOF)
・マトリックス支援レーザー離脱イオン化飛行時間型質量分析装置
(ブルカー・ダルトニクス autoflex maX)
・Triple TOF型質量分析装置
(エービー・サイエックス TripleTOF5600+)
・400MHz核磁気共鳴装置(日本電子 JNM-ECS400)
・紫外-可視分光光度計(日立 U-3900)
・赤外分光光度計(パーキンエルマー Frontier FT-IR)
機器利用、技術相談は機器分析センターまで。
内線:6301
Email:k-bun01[at]cia.utsunomiya-u.ac.jp